Transmission Electron Microscopy study of SiC layers obtained by carbonization of Si wafers,Estudio por microscopía electrónica y espectroscopía de infra-rojos de capas de SiC obtenidas mediante carburización de obleas de Si - Morales, FM; Ramirez, J; Fernandez, C; Barbadillo, L; Piqueras, J; Arauio, D; Molina, SI; Garcia, R (Boletin de la Sociedad Espanola de Ceramica y Vidrio, 2004)